像其他的測量方法一樣，差分測量也受到產(chǎn)生誤差的條件的制約。這些誤差在結(jié)果中也許很明顯，也許并非顯而易見，還有可能被誤認(rèn)為是想要的測量結(jié)果。下面將討論一些比較常見的誤差源。為了了解產(chǎn)生誤差的原因和避免的方法，首先需要對差分示波器或探頭的內(nèi)部運行情況有一個基本的了解。 系統(tǒng)的核心是差分放大級（參見圖14）。其圖示符號與運算放大器相同。差分放大器像運算放大器一樣可以抑制輸入的共模信號而只放大兩個輸入端的電壓差。與運算放大器不同的是，差分放大器具有已知的、有限的增益。在有些配置中，增益可由用戶選擇。輸出是單端的，而且以地為參照。為了獲得很高的阻抗，輸入部分常采用FET（場效應(yīng)管）。輸入信號可以通過高阻抗的衰減器以便使大信號減小到放大器可以處理的范圍。對于衰減器的要求要比單端放大器高得多。兩端必須有相同的直流和交流衰減。衰減量的不匹配對CMRR具有第一位的影響。例如，為了保持100,000:1 的CMRR指標(biāo)，衰減器的匹配度必須好于十萬分之一（0.001%）；這樣就在差分放大器中不給誤差留下余地！當(dāng)然，還需要從信號源開始全程保持這種匹配度。