泰克Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter儀器具有溯源、測量、繪圖和分析功能觸手可及 Keithley 的創(chuàng)新圖形源測量單元儀器可直觀使用及最大限度降低儀器學(xué)習(xí)曲線。 這些觸摸屏儀器可應(yīng)對低至高功率應(yīng)用，例如檢定新高級材料、現(xiàn)代半導(dǎo)體、電化學(xué)電池、電池、電源管理與電路保護裝置、太陽能電池、高亮度 LED 等。 源和測量功能的范圍為 10A 脈沖至 10fA，以及從 200V 至 10nV。 對于超出該范圍的選擇，或?qū)τ陔p通道 SMU 儀器，請考慮 2600B 或 2650 系列 SMU 儀器。

　　泰克Keithley 2400系列SourceMeter®(源測量單元，SMU)儀器是集高精度電源、電流源、電壓源、電子負載和測量功能于一體的多功能設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、新能源等領(lǐng)域的精密測試。其核心優(yōu)勢在于四象限輸出能力(可同時輸出/吸收電流和電壓)和高精度測量(低至pA級電流和μV級電壓分辨率)，以下是其主要測試用途及典型應(yīng)用場景：

　　一、核心測試功能

　　四象限工作模式

　　象限Ⅰ(+V, +I)：作為電源輸出正向電壓和電流(如為器件供電)。

　　象限Ⅱ(+V, -I)：吸收電流(如測試電池充電/放電特性)。

　　象限Ⅲ(-V, -I)：輸出負電壓并吸收電流(如反向偏置測試)。

　　象限Ⅳ(-V, +I)：負電壓下輸出電流(如測試雙向器件)。

　　關(guān)鍵參數(shù)測量

　　電壓范圍：±200V(型號2400)至±1000V(擴展型號)。

　　電流范圍：±1A(2400)至±10A(大電流型號)。

　　分辨率：電壓可達0.1μV，電流低至10fA(部分型號)。

　　二、典型測試用途

　　1. 半導(dǎo)體器件特性分析

　　二極管/晶體管IV曲線：

　　自動掃描正向/反向偏置電壓，繪制IV曲線，提取閾值電壓、漏電流、擊穿電壓等參數(shù)。

　　案例：測試SiC MOSFET的導(dǎo)通電阻(Rds(on))和反向恢復(fù)特性。

　　光電二極管/太陽能電池效率：

　　模擬光照條件(輸出電流源)，測量光電流-電壓特性(Isc, Voc, FF, 轉(zhuǎn)換效率)。

　　存儲器單元讀寫特性：

　　施加編程/擦除脈沖電壓，測試阻變存儲器(RRAM)的電阻切換特性。

　　2. 材料電阻率與霍爾效應(yīng)測試

　　四探針法電阻率測量：

　　通過恒流源輸出電流，測量材料電壓降，計算薄層電阻(Rsq)和體電阻率。

　　霍爾效應(yīng)分析：

　　在磁場中施加電流，測量霍爾電壓，計算載流子濃度和遷移率。

　　3. 納米器件與低功耗器件測試

　　納米線/二維材料電學(xué)特性：

　　測量超低電流(pA~nA級)，分析量子點、石墨烯器件的輸運特性。

　　IoT傳感器功耗分析：

　　模擬電池供電，記錄休眠/工作模式下的微安級電流瞬態(tài)，優(yōu)化功耗設(shè)計。

　　4. 電池與能源器件測試

　　充放電循環(huán)測試：

　　作為可編程電子負載，模擬恒流充電(CC)、恒壓充電(CV)及放電過程，記錄容量衰減。

　　燃料電池極化曲線：

　　掃描電流密度，測量電壓輸出，評估催化劑性能。

　　5. 自動化生產(chǎn)測試(ATE)

　　晶圓級參數(shù)測試：

　　集成探針臺，批量測試芯片的DC參數(shù)(如閾值電壓、漏電流)。

　　功率模塊靜態(tài)參數(shù)測試：

　　快速測量IGBT的Vce(sat)、柵極電荷(Qg)等，滿足產(chǎn)線高吞吐需求。

　　6. 可靠性測試與失效分析

　　TDDB(時間依賴性介電擊穿)：

　　施加恒定電壓，監(jiān)測漏電流隨時間變化，評估氧化層壽命。

　　HCI(熱載流子注入)效應(yīng)：

　　在高電場下測試晶體管參數(shù)漂移，預(yù)測器件可靠性。

　　三、獨特優(yōu)勢與功能擴展

　　高精度與低噪聲

　　采用Guard技術(shù)減少漏電流，支持遠程Sense補償線損，確保微弱信號測量準確性。

　　脈沖模式測試

　　支持μs級脈沖輸出，避免自熱效應(yīng)影響器件特性(如LED瞬態(tài)效率測試)。

　　集成自動化與多通道控制

　　通過GPIB、LAN、USB接口與LabVIEW、Python等軟件交互，支持多臺SMU級聯(lián)構(gòu)建多通道測試系統(tǒng)。

　　案例：8通道SMU系統(tǒng)并行測試OLED像素單元均勻性。

　　安全與保護功能

　　過壓/過流/過溫保護，防止被測器件(DUT)損壞，特別適用于高價值樣品測試。

　　四、典型型號對比與選型建議

　　選型指南：

　　常規(guī)半導(dǎo)體測試：2400系列性價比高，覆蓋多數(shù)中壓/中流需求。

　　高壓/高阻測試：選擇2410或2461(最高1100V)。

　　科研與精密測量：2450系列配備觸摸屏，支持交互式IV曲線繪制。

　　五、行業(yè)應(yīng)用案例

　　半導(dǎo)體Fab實驗室：

　　使用2450測試FinFET器件的亞閾值斜率(Subthreshold Swing)，優(yōu)化柵極介電層設(shè)計。

　　新能源研究院：

　　多臺2400級聯(lián)測試鈣鈦礦太陽能電池模塊的串聯(lián)電阻匹配。

　　汽車電子產(chǎn)線：

　　集成SMU到ATE系統(tǒng)，快速測試車規(guī)級MCU的I/O端口漏電流。

　　Keithley 2400系列SMU憑借其多功能、高精度和靈活的自動化能力，成為從研發(fā)到量產(chǎn)的關(guān)鍵測試工具。用戶需根據(jù)被測器件的電壓/電流范圍、精度要求及測試場景(靜態(tài)/瞬態(tài))選擇合適型號，并搭配探針臺、溫控系統(tǒng)等外圍設(shè)備構(gòu)建完整解決方案。

　　咨詢泰克Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter儀器型號及價格，請聯(lián)系泰克示波器代理商，泰克示波器華南地區(qū)代理商廣州美達克數(shù)據(jù)科技18928764315!