數(shù)字電路和接口在越來越高的時(shí)鐘頻率下的表現(xiàn)非常類似于模擬電路。所以，為了確保新設(shè)計(jì)方案和重新設(shè)計(jì)的方案中接口的質(zhì)量，必須引入新的測量方法和測量設(shè)備。
當(dāng)今車輛中的信息娛樂系統(tǒng)需要的功能，只有借助新型高速顯卡和超快內(nèi)存才能實(shí)現(xiàn)。我們所有的數(shù)字社交互動(dòng)信息都經(jīng)由大型服務(wù)器記錄和處理，它們需要快速地從大功率存儲(chǔ)器中調(diào)取數(shù)據(jù)，并傳輸至各下級系統(tǒng)進(jìn)行處理。
大量的圖像不斷被拍攝，并以高分辨率格式保存，它們在各種情況下被發(fā)往AI服務(wù)器;先進(jìn)的算法可快速地處理數(shù)據(jù)，并輸出優(yōu)質(zhì)的結(jié)果。
一個(gè)典型的AI服務(wù)器與其他先進(jìn)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)一樣：由一個(gè)主板和其他一些先進(jìn)的組件構(gòu)成，如：顯卡、硬盤和大量相連的交換機(jī)。所有這些設(shè)備的連接標(biāo)準(zhǔn)均基于PCI Express(PCIe)。
數(shù)字電路的挑戰(zhàn)
然而，處理更高的數(shù)據(jù)傳輸速率意味著電子系統(tǒng)的開發(fā)也需要一步步繼續(xù)發(fā)展，這也需要非常多的技巧和耐心。復(fù)雜且相互關(guān)聯(lián)的主板系統(tǒng)和增插卡需要仔細(xì)拆解為更小的電路，每個(gè)子電路都將作為下一階段的目標(biāo)進(jìn)行改進(jìn)，即使整個(gè)電路設(shè)計(jì)已經(jīng)完成。
隨著對帶寬需求的增加，PCIe Gen4已經(jīng)在各個(gè)市場中取代了上一代技術(shù)。與此相適應(yīng)，開發(fā)人員對現(xiàn)行的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行不斷更新，交流有關(guān)走線、布線的建議和準(zhǔn)則，以最大程度地減少串?dāng)_或解決因過孔位置不當(dāng)導(dǎo)致的EMI問題。
這些開發(fā)人員往往是探路先鋒，他們持續(xù)所面臨的問題是確定潛在的信號衰減可能發(fā)生的位置和原因，以及究竟還存在多大的冗余。簡單地將一個(gè)插頭換為更實(shí)惠的品類、最后關(guān)頭因?yàn)榱W(xué)原因或者供應(yīng)鏈而導(dǎo)致的引線分配的微調(diào)、固件或硬件的升級，又或者是生產(chǎn)工藝的任何變化都可能是可怕的噩夢，因?yàn)榻鉀Q這些問題需要花費(fèi)額外的精力和時(shí)間來重新對線路板進(jìn)行設(shè)計(jì)。
在主板上應(yīng)用BIOS更新可以實(shí)現(xiàn)與NVMx SSD硬盤間的全速通訊，但也可能引起電氣物理層面上的變化。在固件升級期間，與主板連接且與CPU通信的交換機(jī)和計(jì)時(shí)器的配置可能會(huì)發(fā)生變化，在變化之后執(zhí)行“通道容限測試”可能會(huì)得到不同的測試結(jié)果。抖動(dòng)限值的改進(jìn)隨時(shí)可能發(fā)生，在綜合模擬工具中進(jìn)行準(zhǔn)確建模是在確定對PHY物理層實(shí)際產(chǎn)生影響之前的虛擬驗(yàn)證的關(guān)鍵。然而，模擬并不是總能代表真實(shí)的情況，所以仍然必須執(zhí)行物理層面的測試。
低功耗的Gen3和Gen4配置常常被重新設(shè)置，以實(shí)現(xiàn)潛在的節(jié)能配置。即使在對電源電路進(jìn)行微調(diào)時(shí)，也應(yīng)該確保電源重新接通的步驟足夠快，以滿足連接建立時(shí)間的要求，因?yàn)閮H僅是增加幾毫秒便可能導(dǎo)致形成一種需要重新驗(yàn)證的新情況。
然而，在這些場景下，重新對線路設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證可能并不經(jīng)濟(jì)高效：事實(shí)上，對在物聯(lián)網(wǎng)/消費(fèi)者應(yīng)用中銷售且依舊使用PCIe Gen3連接的非關(guān)鍵性低成本產(chǎn)品進(jìn)行微小的設(shè)計(jì)變更后重新花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證可能并不合理。
半導(dǎo)體企業(yè)需要遵循復(fù)雜的決策路徑，以便針對某設(shè)計(jì)變更根據(jù)經(jīng)驗(yàn)作出是否進(jìn)行新的驗(yàn)證的判斷。判斷的標(biāo)準(zhǔn)源于風(fēng)險(xiǎn)和成本分析。
在此情況下使用到的測試儀器通常為誤碼率測試儀(BERT)和示波器。這些儀器也在不斷發(fā)展，以滿足每一代PCIe標(biāo)準(zhǔn)的要求，但根據(jù)用戶的經(jīng)驗(yàn)，這些儀器的操作普遍比較有挑戰(zhàn)性。
泰克 BERTScope® 和 PatternPro® 系列提供各種信號調(diào)節(jié)以及 1 至 4 通道 1.5 Gb/s 至 40 Gb/s 的 BER 分析，并可以對業(yè)內(nèi)廣泛的串行通信誤碼率測試儀產(chǎn)品組合進(jìn)行測試和測量。
按照您的具體測試應(yīng)用從下表中選擇單通道和多通道誤碼率測試儀。對于需要清潔快速邊沿和多通道生成 (MLG) 的 PRBS 碼型，PatternPro 系列非常適用于進(jìn)行數(shù)據(jù)通信測試。
BERTScope 系列可滿足要求精確抖動(dòng)容限測試、深層損傷測試和深入分析(包括抖動(dòng)分隔和 PCI Express 測試或 USB 一致性測試)的設(shè)計(jì)的嚴(yán)格要求。通過信號調(diào)整和時(shí)鐘恢復(fù)產(chǎn)品來補(bǔ)充誤碼率分析儀的功能，如下所示：
BERTScope® CR 系列時(shí)鐘恢復(fù)儀器
具備“黃金 PLL”響應(yīng)和一致性測量所需的靈活性和準(zhǔn)確度，與誤碼率測試儀及采樣示波器結(jié)合使用。
BERTScope® DPP 系列數(shù)字預(yù)加重及 LE 系列線性均衡器
通過增加數(shù)量可控的預(yù)加重與誤碼率分析儀結(jié)合使用，調(diào)節(jié)測試碼型信號。
PatternPro PED多通道/多電平錯(cuò)誤檢測，適用于高級元器件檢定和光數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)測試。
咨詢泰克泰克誤碼率測試儀價(jià)格及型號，請聯(lián)系泰克分析儀器代理商，泰克分析儀器南地區(qū)代理商廣州美達(dá)克數(shù)據(jù)科技18928764315!
