示波器測量晶體振動狀態(tài)的方法是什么?

　　示波器測量晶體振動狀態(tài)的方法是什么?讓我們看看!

　　晶體振蕩器是指從一個應(yīng)時晶體上按一定方位角切割薄片(簡稱晶片)，簡稱應(yīng)時晶體諧振器，簡稱應(yīng)時晶體或晶體和晶體振蕩;在包裝中加入集成電路形成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器。其產(chǎn)品一般用金屬外殼包裝，也用玻璃外殼、陶瓷或塑料包裝。所謂應(yīng)時晶體諧振器和應(yīng)時晶體振蕩器的總稱。

　　晶體振動是利用壓電效應(yīng)(物理特性)，在晶片上施加機械應(yīng)力時，會產(chǎn)生電荷偏移。

　　示波器測試晶體振動

　　晶體振動波形一般為正弦波或方波，當(dāng)輸出波形為方波時，一般上升沿較抖，并含有較多的高頻信號，此時要保證測試帶寬足夠，理論值是被測信號頻率的2倍，實際測試方波時，帶寬應(yīng)為被測信號頻率的10倍。

　　除帶寬外，在測試晶振時，還應(yīng)注意以下幾點：晶振對電容負(fù)荷敏感，探頭電容相對較大，相當(dāng)于將重負(fù)荷并聯(lián)于晶振電路，容易導(dǎo)致電路停振，無法得到正確的測量結(jié)果。

　　因此，在進行晶體振動測試時，需要確保足夠的帶寬和較小的輸入電容。

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