當(dāng)今的電子產(chǎn)品，信號(hào)速度越來越快，集成電路芯片的供電電壓也越來越小，90年代芯片的供電通常是5V和3.3V，而現(xiàn)在，高速IC的供電通常為2.5V, 1.8V或1.5V等等。對(duì)于這類電壓較低直流電源的電壓測(cè)試（簡(jiǎn)稱電源噪聲測(cè)試），本文將簡(jiǎn)要討論和分析。

在電源噪聲測(cè)試中，通常有三個(gè)問題導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確
示波器的量化誤差
使用衰減因子大的探頭測(cè)量小電壓
探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測(cè)點(diǎn)的距離過大
示波器存在量化誤差，實(shí)時(shí)示波器的ADC為8位，把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為2的8次方（即256個(gè)）量化的級(jí)別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時(shí)，則增大了量化的間隔，減小了精度，準(zhǔn)確的測(cè)量需要調(diào)節(jié)示波器的垂直刻度（必要時(shí)使用可變?cè)鲆妫�，盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動(dòng)態(tài)范圍。在圖一中藍(lán)色波形信號(hào)（C3）的垂直刻度是紅色波形（C2）四分之一，對(duì)兩個(gè)波形的上升沿進(jìn)行放大（F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)），然后對(duì)放大的波形作長(zhǎng)余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯（即量化級(jí)別），而右下部分波形F2的階梯較少（即量化級(jí)別更少）。如果對(duì)C2和C3兩個(gè)波形測(cè)量一些垂直或水平參數(shù)，可以發(fā)現(xiàn)占滿屏幕的信號(hào)C2的測(cè)量參數(shù)統(tǒng)計(jì)值的標(biāo)準(zhǔn)偏差小于后者的。說明了前者測(cè)量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。