1、測(cè)試分析過(guò)程：

　　2、首先萬(wàn)用表測(cè)量AD輸出引腳（串行輸出，連接MCU），AD輸出端沒(méi)有轉(zhuǎn)換完成信號(hào)（一個(gè)下降沿）出現(xiàn)。

　　3、這個(gè)時(shí)候，如果人為將AD輸出端拉低，系統(tǒng)工作正常。

　　4、所以，MCU端應(yīng)該沒(méi)有出現(xiàn)異常。

　　5、但是，AD端很長(zhǎng)一段時(shí)間都是工作正常的，為什么突然工作出現(xiàn)了異常。

　　6、在用示波器測(cè)試了各個(gè)地方之后，最終懷疑到了晶振上。

　　7、當(dāng)將示波器探頭放到XTAL1上時(shí)，系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。如果將探頭拿下，則系統(tǒng)不再工作。

　　8、由此斷定，系統(tǒng)工作異常的原因，出現(xiàn)在晶振起振上。

　　9、后來(lái)先將負(fù)載電容調(diào)大一些，發(fā)現(xiàn)依然無(wú)法起振。

　　10、之后將負(fù)載電容調(diào)小了一些，晶振起振。系統(tǒng)恢復(fù)正常工作。